METODY ANALIZY I OPTYMALIZACJI TOLERANCJI PARAMETRÓW UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH Maciej Stybliński
Producent: ][216]
WNT 1981, str. 244, stan db
W książce omówiono metody analizy i optymalizacj tolerancji parametrów układów elektronicznych. Są w niej poruszane m.in. następujące zagadnienia: metody analizy wrażliwościowej mało- i wielkoprzyrostowej, analiza statystyczna układów, optymalizacja w sensie wrażliwościowych kryteriów jakości i w sensie najgorszego przypadku zmian parametrów, problemy optymalnego centrowania i strojenia, estymacja i optymalizacja uzysku produkcyjnego itp. Książka jest przeznaczona dla pracowników naukowych oraz inżynierów elektroników zajmujących się projektowaniem układów i systemów elektronicznych. Mogą z niej również korzystać studenci wyższych lat studiów wydziałów elektrycznych i elektroniki.
W książce omówiono metody analizy i optymalizacj tolerancji parametrów układów elektronicznych. Są w niej poruszane m.in. następujące zagadnienia: metody analizy wrażliwościowej mało- i wielkoprzyrostowej, analiza statystyczna układów, optymalizacja w sensie wrażliwościowych kryteriów jakości i w sensie najgorszego przypadku zmian parametrów, problemy optymalnego centrowania i strojenia, estymacja i optymalizacja uzysku produkcyjnego itp. Książka jest przeznaczona dla pracowników naukowych oraz inżynierów elektroników zajmujących się projektowaniem układów i systemów elektronicznych. Mogą z niej również korzystać studenci wyższych lat studiów wydziałów elektrycznych i elektroniki.