« Elektryka, Elektronika

PRACOWNIA ELEKTRONICZNA elementy układów elektronicznych A.Chwaleba B.Moeschke M.Pilawski

Producent: [154 N]

Cena: 17,00 zł

WSiP, 1996, str. 172 stan bdb- (podniszczona lekko okładka)

ISBN83-02-06160-3




Książka stanowi pierwszą część podręcznika do pracowni elektronicznej i obejmuje 11 ćwiczeń dotyczących badania podstawowych elementów układów elektronicznych: elementów rezystancyjnych, pojemnościowych, indukcyjnych, tłumików, jak również nieliniowych elementów biernych: warystorów, termistorów, a także lamp elektronopromieniowych, diod półprzewodnikowych, sterowanych elementów półprzewodnikowych, tranzystorów unipolarnych i bipolarnych oraz elementów optoelektronicznych i galwanomagnetycznych.
Podręcznik jest przeznaczony do zajęć praktycznych dla uczniów klasy II technikum elektronicznego (wszystkie specjalności) oraz jako książka pomocnicza dla pracowników zatrudnionych przy eksploatacji i obsłudze urządzeń elektronicznych.


Spis treści
Ćwiczenie 1. Badanie elementów rezystancyjnych i pojemnościowych
1.1. Cel ćwiczenia .
1.2. Wprowadzenie.
1.3. Badania.
1.3.1. Zakres badań i klasyfikacja metod pomiarowych
1.3.2. Pomiary rezystancji metodami staloprądowymi
1.3.3. Pomiary rezystancji, pojemności i współczynnika stratności (tgd) kondensatorów metodami zmiennoprądowymi
1.4. Przebieg ćwiczenia
1.5. Opracowanie wyników pomiarów
1.6. Zagadnienia do samodzielnego opracowania
Ćwiczenie 2. Badanie elementów indukcyjnych
2.1. Cel ćwiczenia .
2.2. Wprowadzenie
2.3. Badania.
2.3.1. Pomiary indukcyjności własnej, wzajemnej i dobroci metodami odchyłowymi
2.3.2. Pomiary indukcyjności własnej, wzajemnej i dobroci metodą zerową.
2.4. Przebieg ćwiczenia.
2.5. Opracowanie wyników pomiarów
2.6. Zagadnienia do samodzielnego opracowania
Ćwiczenie 3. Badanie tłumików
3.1. Cel ćwiczenia .
3.2. Wprowadzenie
3.3. Badania
3.3.1. Pomiary impedancji falowych tłumika
3.3.2. Pomiary tłumienności tłumików
3.4. Przebieg ćwiczenia
3.5. Opracowanie wyników pomiarów
3.6. Zagadnienia do samodzielnego opracowania
Ćwiczenie 4. Badanie nieliniowych elementów biernych.
4.1. Cel ćwiczenia
4.2. Wprowadzenie.
4.3. Badania
4.3.1. Wyznaczanie charakterystyki prądowo-napięciowej warystora .
4.3.2. Wyznaczanie charakterystyki rezystancyjno-prądowej warystora
4.3.3. Wyznaczanie współczynnika nieliniowości i napięcia charakterystycznego warystora .
4.3.4. Wyznaczanie charakterystyki rezystancyjno-temperaturowej termistora.
4.3.5. Wyznaczanie charakterystyk napięciowo-prądowych termistorów .
4.3.6. Pomiar współczynnika temperaturowego rezystancji i stałej materiałowej termistora
4.4. Przebieg ćwiczenia.
4.5. Opracowanie wyników pomiarów
4.6. Zagadnienia do samodzielnego opracowania
Ćwiczenie 5. Badanie lamp elektronopromieniowych
5.1. Cel ćwiczenia
5.2. Wprowadzenie.
5.3. Badania.
5.3.1. Wyznaczanie charakterystyki sterowania lampy oscyloskopowej
5.3.2. Wyznaczanie czułości odchylania płytek X i /
5.3.3. Wyznaczanie charakterystyk luminancji lampy oscyloskopowej .
5.3.4. Wyznaczanie charakterystyki poświaty ekranu luminescencyjnego
5.3.5. Wyznaczanie charakterystyki modulacyjnej kineskopu i czułości odchylania
5.3.6. Pomiary kontrastu powierzchni i kontrastu szczegółów kineskopu .
5.3.7. Wyznaczanie charakterystyki luminancji kineskopu
5.3.8. Subiektywna ocena jakos'ci obrazu
5.4. Przebieg ćwiczenia.
5.5. Opracowanie wyników pomiarów
5.6. Zagadnienia do samodzielnego opracowania..
Ćwiczenie 6. Badanie diod półprzewodnikowych
6.1. Cel ćwiczenia
6.2. Wprowadzenie.
6.3. Badania
6.3.1. Wyznaczanie charakterystyk prądówo-napieciowych diod prostowniczych, impulsowych i stabilizacyjnych
6.3.2. Pomiary parametrów impulsowych diod.
6.3.3. Wyznaczanie rezystancji dynamicznej diod
6.3.4. Wyznaczanie pojemności diody pojemnościowej .
6.3.5. Mierniki parametrów diod
6.4. Przebieg ćwiczenia
6.5. Opracowanie wyników pomiarów .
6.6. Zagadnienia do samodzielnego opracowania
Ćwiczenie 7. Badanie sterowanych elementów półprzewodnikowych
7.1. Cel ćwiczenia .
7.2. Wprowadzenie..
7.3. Badania.
7.3.1. Wyznaczanie charakterystyki prądowo-napięciowej
7.3.2. Pomiar prądu podtrzymania /H
7.3.3. Pomiar prądu przełączającego bramki /GT i napięcia przełączającego bramki Uqj
7.3.4. Wyznaczanie charakterystyki prądowo-napięciowej bramki..
7.4. Przebieg ćwiczenia.
7.5. Opracowanie wyników pomiarów
7.6. Zagadnienia do samodzielnego opracowania.
Ćwiczenie 8. Badanie tranzystorów bipolarnych
8.1. Cel ćwiczenia
8.2. Wprowadzenie.
8.3. Badania.
8.3.1. Wyznaczanie charakterystyk statycznych.
8.3.2. Wyznaczanie prądów zerowych .
8.3.3. Wyznaczanie napięcia nasycenia
8.3.4. Wyznaczanie zwarciowych współczynników wzmocnienia prądowego dla prądu stałego.
8.3.5. Wyznaczanie parametrów h.
8.3.6. Wyznaczanie czasów przełączania,
8.3.7. Mierniki parametrów tranzystorów bipolarnych
8.4. Przebieg ćwiczenia
8.5. Opracowanie wyników pomiarów
8.6. Zagadnienia do samodzielnego opracowania.
Ćwiczenie 9. Badanie tranzystorów unipolarnych
9.1. Cel ćwiczenia
9.2. Wprowadzenie
9.3. Badania.
9.3.1. Wyznaczanie charakterystyk przejściowych i wyjściowych.
9.3.2. Wyznaczanie napięcia odcięcia bramka-źródło.
9.3.3. Wyznaczanie prądu nasycenia drenu
9.3.4. Wyznaczanie rezystancji włączania i rezystancji wyłączania
9.3.5. Wyznaczanie transkonduktancji.
9.3.6. Wyznaczanie rezystancji drenu
9.3.7. Mierniki parametrów tranzystorów unipolarnych
9.4. Przebieg ćwiczenia.
9.5. Opracowanie wyników pomiarów
9.6. Zagadnienia do samodzielnego opracowania.
Ćwiczenie 10. Badanie elementów optoelektronicznych
10.1. Cel ćwiczenia.
10.2. Wprowadzenie
10.3. Badania
10.3.1. Wyznaczanie charakterystyk statycznych fotoogniwa
10.3.2. Badanie właściwości dynamicznych fotoogniwa
10.3.3. Wyznaczanie charakterystyk statycznych fotorezystora
10.3.4. Wyznaczanie charakterystyk dynamicznych fotorezystora ..
10.3.5. Badanie fotodiody
10.3.6. Badanie fototranzystora
10.3.7. Badania diody elektroluminescencyjnej .
10.3.8. Badanie transoptora.
10.4. Przebieg ćwiczenia.
10.5. Opracowanie wyników pomiarów
10.6. Zagadnienia do samodzielnego opracowania .
Ćwiczenie 11. Badanie elementów galwanomagnetycznych.
11.1. Cel ćwiczenia
11.2. Wprowadzenie
11.3. Badania
11.3.1. Wyznaczanie charakterystyk hallotronu .
11.3.2. Wyznaczanie charakterystyk gaussotronu
11.4. Przebieg ćwiczenia
11.5. Opracowanie wyników pomiarów
11.6. Zagadnienia do samodzielnego opracowania .

Zobacz podobne produkty

Zastosowania programu NAP2 do obliczania układów elektronicznych  M. Ramotowski

Zastosowania programu NAP2 do obliczania układów elektronicznych M. Ramotowski

Producent: 003

Cena: 19,68 zł

WNT 1996 str. 264, stan bdb- (podniszczona lekko okładka i grzbiet - zdjęcie,) ISBN 83-204-1938-7 W książce podano skrócony opis programu NAP2 oraz sposób jego instalowania i używania. Zawarto w niej wiele przykładów zastosowań programu symulacyjnego NAP2 do analizy wybranych problemów z zakresu projektowania układów elektrycznych. Podano również podstawowe wiadomości na temat metod identy (zobacz więcej ...)

ANALIZA UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WSPOMAGANA MIKROKOMPUTEREM Michał Białko

ANALIZA UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WSPOMAGANA MIKROKOMPUTEREM Michał Białko

Producent: [100][8]

Cena: 12,00 zł

WNT 1989, str. 276 stan db (podniszczona lekko okładka, zakurzona) ISBN 83-204-0989-6 W książce omówiono metody numerycznej analizy układów elektronicznych przy użyciu mikrokomputera. Przedstawiono analizę liniowych i nieliniowych rezystancyjnych układów aktywnych, stany przejściowe w liniowych i nieliniowych układach RLC, analizę zmiennoprądową w stanie ustalonym i analizę fourierowską. (zobacz więcej ...)

ELEMENTY I UKŁADY ELEKTRONICZNYCH MASZYN CYFROWYCH  TEUVO KOHONEN

ELEMENTY I UKŁADY ELEKTRONICZNYCH MASZYN CYFROWYCH TEUVO KOHONEN

Cena: 14,90 zł

WNT 1975, str. 398, stan db+ /bdb- (podniszczona lekko okładka, zakurzona) ISBN W książce omówiono zagadnienia projektowania elementów i układów cyfrowych. Podano przegląd wiadomości z dziedziny projektowania układów logicznych oraz podstawy nowoczesnej elektroniki cyfrowej. Przedstawiono metody projektowania urządzeń cyfrowych przy zastosowaniu układów scalonych małej i wielkiej skali (zobacz więcej ...)

METODY ANALIZY I OPTYMALIZACJI TOLERANCJI PARAMETRÓW UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH Maciej Stybliński

METODY ANALIZY I OPTYMALIZACJI TOLERANCJI PARAMETRÓW UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH Maciej Stybliński

Producent: ][216]

Cena: 12,00 zł

WNT 1981, str. 244, stan db W książce omówiono metody analizy i optymalizacj tolerancji parametrów układów elektronicznych. Są w niej poruszane m.in. następujące zagadnienia: metody analizy wrażliwościowej mało- i wielkoprzyrostowej, analiza statystyczna układów, optymalizacja w sensie wrażliwościowych kryteriów jakości i w sensie najgorszego przypadku zmian parametrów, problemy optymalnego cen (zobacz więcej ...)

Elektroniczna technika obliczeniowa  Krzysztof Sapiecha

Elektroniczna technika obliczeniowa Krzysztof Sapiecha

Cena: 9,44 zł

WNT 1981 str 288, stan db+ (podniszczona lekko okładka) ISBN83-204-0240-9 W podręczniku omówiono zasady działania, technikę programowania oraz podstawy użytkowania elektronicznych systemów liczących. Rozważania na temat techniki programowania uzupełniono obszernym wykładem języka Fortran 1900 dla maszyn cyfrowych serii ODRA 1300 oraz licznymi przykładami programów napisanych w tym języku (zobacz więcej ...)